CSProf

Centrum Szkoleń Profesjonalnych

SPC

Plan szkolenia:

  • Wstęp,
  • Miary zmienności,
  • Budowa kart,
    Zdolność maszyny – Cm/Cmk,
  • Zdolność procesu Cp/Cpk & Pp/Ppk,
  • Zdolność dla rozkładów innych niż normalne,
  • Wadliwość,
  • Six-sigma a SPC,
  • Zakłócenia,
  • Karta kontrolne przy ocenie liczbowej (X-R, X-S, Me-R, IX-MR),
  • Karta kontrolne przy ocenie atrybutywnej (p, np, c, u),
  • Pozostałe karty kontrolne.

Ćwiczenia:

  • Obliczenie wadliwości procesu,
  • Obliczenie poziomu „sigma level” zgodnie z metodologią 6sigma,
  • Projektowanie kart kontrolno-pomiarowych,
  • Ćwiczenie z kartą typu X-R „średnia i rozstęp” (wypełnianie, obliczanie i analizowanie),
  • Ćwiczenie z kartą typu IX-MR +”pojedynczy wynik i średnia ruchoma” (wypełnianie, obliczanie i analizowanie),
  • Ćwiczenie z kartami dla danych atrybutywnych (wypełnianie, obliczanie i analizowanie).