CSProf

Centrum Szkoleń Profesjonalnych

MSA

Plan szkolenia:

  • Wstęp
  • MSA a kalibracja
  • Kalibracja
  • Zmienność w systemach pomiarowych
  • Metody
  • Zdolność przyrządu pomiarowego
  • Metoda rozstępów
  • Metoda średnich i rozstępów
  • Metoda krótka
  • Metoda detekcji sygnału
  • Metoda Kappa (tabel krzyżowych)
Ćwiczenia:
      • Obliczenie współczynników Cg/Cgk na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
      • Wyznaczenie zdolności przyrządu Cg/Cgk – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem przyrządu pomiarowego, skalibrowanej sztuki produkcyjnej i elektronicznej karty do wyznaczania współczynników Cg/Cgk,
      • Wyznaczenie zdolności przyrządu Cg/Cgk – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem przyrządu pomiarowego, wzorca jednostki miary i elektronicznej karty do wyznaczania współczynników Cg/Cgk,
      • Obliczenie współczynnika %GRR metodą rozstępów na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
      • Porównanie dwóch systemów pomiarowych metodą rozstępów „Range Method” – ćwiczenie praktyczne z użyciem dwóch przyrządów pomiarowych, detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą rozstępów,
      • Obliczenie współczynnika %GRR metodą średnich i rozstępów na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
      • Wyznaczenie współczynnika %GRR metodą średnich i rozstępów „Average Range Method” – ćwiczenie praktyczne z użyciem przyrządu pomiarowego, detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą średnich i rozstępów,
      • Wyznaczenie współczynnika %GRR metodą detekcji sygnału dla danych atrybutywnych – ćwiczenie praktyczne z użyciem przyrządu pomiarowego (sprawdzian GO/NOGO), detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą detekcji sygnału,
        Obliczenie współczynnika Kappa metodą tabel krzyżowych na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
      • Wyznaczenie współczynnika kappa dla danych atrybutywnych metodą tabel krzyżowych – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem detali produkcyjnych (kontrola aspektów wizualnych) i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą Kappa