Plan szkolenia:

• Wstęp
• MSA a kalibracja
• Kalibracja
• Zmienność w systemach pomiarowych
• Metody
• Zdolność przyrządu pomiarowego
• Metoda rozstępów
• Metoda średnich i rozstępów
• Metoda krótka
• Metoda detekcji sygnału
• Metoda Kappa (tabel krzyżowych)

Ćwiczenia:

• • • Obliczenie współczynników Cg/Cgk na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
    • Wyznaczenie zdolności przyrządu Cg/Cgk – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem przyrządu pomiarowego, skalibrowanej sztuki produkcyjnej i elektronicznej karty do wyznaczania współczynników Cg/Cgk,
    • Wyznaczenie zdolności przyrządu Cg/Cgk – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem przyrządu pomiarowego, wzorca jednostki miary i elektronicznej karty do wyznaczania współczynników Cg/Cgk,
    • Obliczenie współczynnika %GRR metodą rozstępów na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
    • Porównanie dwóch systemów pomiarowych metodą rozstępów „Range Method” – ćwiczenie praktyczne z użyciem dwóch przyrządów pomiarowych, detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą rozstępów,
    • Obliczenie współczynnika %GRR metodą średnich i rozstępów na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
    • Wyznaczenie współczynnika %GRR metodą średnich i rozstępów „Average Range Method” – ćwiczenie praktyczne z użyciem przyrządu pomiarowego, detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą średnich i rozstępów,
    • Wyznaczenie współczynnika %GRR metodą detekcji sygnału dla danych atrybutywnych – ćwiczenie praktyczne z użyciem przyrządu pomiarowego (sprawdzian GO/NOGO), detali produkcyjnych i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą detekcji sygnału,
      Obliczenie współczynnika Kappa metodą tabel krzyżowych na przedstawionym zbiorze danych – ćwiczenie rachunkowe,
    • Wyznaczenie współczynnika kappa dla danych atrybutywnych metodą tabel krzyżowych – ćwiczenie praktyczne z zastosowaniem detali produkcyjnych (kontrola aspektów wizualnych) i elektronicznej karty do analizy systemu pomiarowego metodą Kappa